Das Rasterkraftmikroskop
Das Rasterkraftmikroskop (kurz: RKM) stellt die zweite Art der gebräuchlichen Rastersondenmikroskope dar. Hierbei tastet eine sehr dünne Nadel, welche auf einem flexiblen Hebel, dem sogenannten Cantilever, angebracht ist (vgl. Abb. 4), die Oberfläche zeilenweise ab. Es ist dabei sowohl möglich, dass die Spitze die Probe konstant berührt oder auch in einem gewissen Abstand (einige Nanometer) über der Probe entlang geführt wird. Zwischen der Sonde und der Probe treten dabei – je nach Verfahren unterschiedliche – Kräfte auf, die wiederum gemessen werden. Die häufigste Variante ist das Ausnutzen der Magnetkraft (Magnetkraftmikroskopie), die Messung der Reibungskraft, elektrischer Abstoßung oder chemischer Wechselwirkung ist aber ebenfalls möglich.
Ein weiterer Unterschied zum RTM besteht in der Messung der Kenngrößen. Beim RKM geschieht dies durch einen Laserstrahl, der auf die Rückseite des Cantilevers gerichtet wird. Da das Cantilever außerordentlich flexibel ist und sich je nach Krafteinwirkung neigt, wird der Laserstrahl in unterschiedlichen Winkeln reflektiert, was wiederum sehr präzise durch einen Photosensor gemessen werden kann.
Die Vorteile des RKM liegen darin, dass man aufgrund des breiten Spektrums der nutzbaren Kräfte deutlich mehr
Materialien untersuchen kann, als es mit einem RTM möglich wäre, was die Anwendbarkeit in Zukunft bei einer Weiterentwicklung deutlich erhöhen könnte. Des Weiteren lässt sich die Nadel (Spitze) des Cantilevers in einer größeren Entfernung zur Probe halten (mehrere Nanometer), was die Empfindlichkeit gegenüber Störfaktoren zumindest ein wenig reduziert. Ein Nachteil ist die geringfügig kleiner Auflösung gegenüber dem RTM.